Sockets de test

Les sockets de test pour semi‑conducteurs sont des interfaces de haute précision qui accueillent temporairement les circuits intégrés (IC, ASIC, SoC, mémoires…) afin de les tester en laboratoire, en production ou en burn‑in, en garantissant un alignement mécanique fiable, un chemin de signal propre (faible résistance, faible bruit, parfois jusqu’aux hautes fréquences) et une grande endurance aux cycles d’insertion/retrait.
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  • Socket de Test de Production
    Les sockets de test de production sont des contacteurs haute performance pour semi‑conducteurs qui, en s’appuyant sur la technologie de contact à ressort IDI de Smiths Interconnect, assurent une excellente qualité de signal et une fiabilité élevée aussi bien en test de production haut volume qu’en laboratoire ou en R&D.
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  • Socket de Test de Burn-In
    Un socket de test de burn‑in est un support spécialisé pour semi‑conducteurs qui maintient le composant en place pendant des essais prolongés sous fortes contraintes (température et charge élevées), afin de provoquer et détecter les défaillances précoces, d’évaluer la durabilité et de garantir que seuls les composants les plus fiables seront intégrés dans les produits finaux.
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