Pour vos applications de test électronique, trois grandes familles d’interfaces se distinguent, toutes disponibles en mode semi-automatique ou entièrement automatique, avec verrouillage pneumatique sans effort pour l’opérateur.
L’interface de test dédiée est associée à une seule application : une interface = un produit. Elle offre une excellente stabilité mécanique et une très forte répétabilité des tests, particulièrement adaptée aux productions en grande série où le produit évolue peu et où la cadence est prioritaire.
L’interface de test interchangeable repose sur une cassette amovible, qui permet de mutualiser un même châssis de base pour plusieurs cartes ou modules. Cette approche modulaire simplifie les changements de série, réduit les coûts d’investissement et apporte une grande flexibilité aux environnements de production qui doivent enchaîner des références différentes tout en gardant une qualité de contact élevée.
L’interface de test faradisée intègre une cage de Faraday, avec des niveaux d’atténuation pouvant atteindre -80 dB à -100 dB, pour les tests RF/HF et les applications sensibles aux perturbations électromagnétiques. Elle garantit des mesures protégées des interférences externes et sécurise également l’environnement vis-à-vis des signaux émis, ce qui en fait la solution de référence pour les tests radio, télécoms ou produits connectés.
En combinant le verrouillage pneumatique, la possibilité d’automatisation complète et le choix entre dédié, interchangeable ou faradisé, ces interfaces couvrent l’essentiel des besoins des bancs ICT/FCT modernes, de la grande série aux tests RF les plus exigeants.
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Interfaces de test : dédiée, interchangeable ou faradisée, comment choisir ?
Présentation des interfaces de test et de leur rôle dans l'industrie
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