Les Probe Cards : Une Solution Complémentaire
Publié : sam. févr. 21, 2026 9:37 am
En complément des sockets de test, Smiths Interconnect propose également des probe cards, utilisées pour tester les puces semi-conductrices directement sur les plaquettes (wafers). Ces cartes de sondage offrent :
- Une haute densité de contacts pour tester des dispositifs miniaturisés.
- Une précision micrométrique pour des mesures fiables.
- Une compatibilité avec les équipements de test automatisés.
Les sockets de test et probe cards de Smiths Interconnect, basés sur la technologie IDI, représentent une solution de choix pour les professionnels du test de semi-conducteurs. Leur précision, leur durabilité et leur adaptabilité en font des outils indispensables pour garantir la qualité et la fiabilité des dispositifs électroniques.
Pour en savoir plus sur les solutions de Smiths Interconnect, consultez leur site officiel ou contactez un expert pour une démonstration.
- Une haute densité de contacts pour tester des dispositifs miniaturisés.
- Une précision micrométrique pour des mesures fiables.
- Une compatibilité avec les équipements de test automatisés.
Les sockets de test et probe cards de Smiths Interconnect, basés sur la technologie IDI, représentent une solution de choix pour les professionnels du test de semi-conducteurs. Leur précision, leur durabilité et leur adaptabilité en font des outils indispensables pour garantir la qualité et la fiabilité des dispositifs électroniques.
Pour en savoir plus sur les solutions de Smiths Interconnect, consultez leur site officiel ou contactez un expert pour une démonstration.